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什么是双面镜测试方法

时间:2024-05-26 02:28 阅读数:9623人阅读

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什么是双面镜测试方法

华微电子取得一种探针台及芯片测试系统专利,无需更换额外部件即可...本申请公开了一种探针台及芯片测试系统,探针台包括载片台、可拆卸固定件、第一探针、第二探针以及第三探针,为解决相关技术中单面芯片和双面芯片由于结构不同需要不同的探针台进行芯片测试的问题,在待测芯片被配置为双面芯片时,第一探针、第二探针和第三探针被配置为双面...

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●▽● 博众精工取得双面下针设备专利,能够同时对工件的两面进行测试金融界2023年12月11日消息,据国家知识产权局公告,博众精工科技股份有限公司取得一项名为“一种双面下针设备“,授权公告号CN114578106B,申请日期为2022年3月。专利摘要显示,本发明属于电路板测试技术领域,公开了一种双面下针设备,能够同时对工件的两面进行测试。该双面...

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≥﹏≤ 回天新材:成功开发高阻隔透明背板并送样客户测试金融界11月16日消息,回天新材在互动平台表示,公司已成功开发高阻隔透明背板,该产品已送样客户处测试。此背板主要适用于光伏n型组件,且适用于需要满足高雪载、冰雹风险等条件下双面单玻组件,而非双面双玻组件。本文源自金融界AI电报

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